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更新日期： 2024-11-06
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11月5日晚間，國產(chǎn)存儲芯片及MCU大廠兆易創(chuàng)新發(fā)布公告稱，擬與多家投資方組共同以現(xiàn)金方式收購蘇州賽芯電子科技股份有限公司（以下簡稱“蘇州賽芯”或“標的公司”）全體股東合計持有的蘇州賽芯70%的股份。根據(jù)北京卓信大華資產(chǎn)評估有限公司對蘇州賽芯 100%股權截至基準日（即 2024 年 6 月 30 日）的價值進……

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版圖設計是一門技術，也是一門藝術

更新日期： 2024-10-31
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我們可以將集成電路版圖設計比作城市規(guī)劃和建筑設計的結(jié)合。就像在有限的土地上規(guī)劃建筑和道路布局一樣，版圖設計需要在有限的芯片空間上安排晶體管、布線和各類元件，以實現(xiàn)功能和性能的最大化。一、什么是版圖設計？版圖設計是將電路的邏輯功能通過物理層次實現(xiàn)出來的過程。它類似于建筑圖紙的設計工作，需要通過EDA工具（……

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如何在晶圓上生長二氧化硅（SiO2）

更新日期： 2024-10-31
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氧化工藝在CMOS集成電路制造中是一個非常重要的步驟，用于在硅片（Si wafer）表面生長二氧化硅（SiO2）。生長SiO2的過程可以類比為給硅片“穿上一層保護外衣”，這種外衣可以起到絕緣、防護和隔離等作用。 1. 準備基材（硅片）首先，需要準備一塊高純度的硅片。這就像在一張空白的畫布上進行繪畫，硅片是……

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閑聊低電壓模擬芯片設計技巧

更新日期： 2024-10-31
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低電壓模擬電路設計技術的核心是要在盡可能低的電源電壓下，實現(xiàn)高效的模擬信號處理。這種設計思路主要受到移動設備、植入式醫(yī)療設備等應用場景的需求驅(qū)動。由于這些設備的空間和能量資源有限，工程師們需要找到能夠在低電壓（如3V以下）下高效工作的電路設計方法。 1. 技術選擇與工藝背景低電壓設計首先受到半導體工藝的限……

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涉嫌向韓國泄露長鑫存儲相關信息，三星前員工被中國警方逮捕！

更新日期： 2024-10-30
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據(jù)《朝鮮日報》、朝中社等媒體報道，韓國駐華大使館于10月28日表示，一名50歲韓國男子A某因涉嫌“向韓國泄露中國半導體信息”，被以“間諜罪”于去年12月被中國警方拘留。這是自去年 7 月中國修訂的《反間諜法》生效以來，第一起根據(jù)該法逮捕韓國人的案件。報道稱，A某現(xiàn)居安徽省合肥市，在當?shù)匾患野雽w公司工作，與妻子……

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中國在硅光子集成領域取得里程碑式突破！

更新日期： 2024-10-26
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據(jù)“九峰山實驗室”官方消息，2024年9月，該實驗室在硅光子集成領域取得里程碑式突破性進展——成功點亮集成到硅基芯片內(nèi)部的激光光源，這也是該項技術在國內(nèi)的首次成功實現(xiàn)。顯微鏡下，片上光源芯片的光輸出視頻隨著人工智能大模型的開發(fā)和應用，以及自動駕駛等技術的發(fā)展，對于芯片算力的需求持……

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國產(chǎn)電動汽車拿下全球66%市場，但90%芯片仍依賴進口！

更新日期： 2024-10-26
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據(jù)《經(jīng)理人》援引研究機構Rho Motion的最新調(diào)查數(shù)據(jù)報道稱，2024年9月，全球電動汽車市場總計售出170萬輛電動車，創(chuàng)下新的銷售紀錄。其中，以中國電動汽車市場表現(xiàn)最突出，單月銷售110萬輛刷新紀錄，幾乎占全球市場66%的份額。 2024年初至9月底，全球共賣出1,150萬輛電動車，其中國市場銷量高達720……

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英偉達2024年將出貨10億個RISC-V 內(nèi)核

更新日期： 2024-10-26
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10月25日消息，據(jù)Tomshardware援引@NickBrownHPC 的爆料稱，盡管英偉達（NVIDIA）的 GPU 依賴于其專有的 CUDA 內(nèi)核，這些內(nèi)核具有其指令集架構并支持各種數(shù)據(jù)格式。但是在本月的RISC-V峰會上，英偉達透露，這些內(nèi)核由依賴于行業(yè)標準 RISC-V ISA 的定制內(nèi)核控制，盡管有一些擴……

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EMMI在半導體器件失效分析的重要性

更新日期： 2024-10-24
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失效分析的目的是通過技術手段找出器件失效的根本原因，并推動改進措施的實施，從而提升生產(chǎn)工藝、改善產(chǎn)品質(zhì)量、提高良率和可靠性。EMMI是在失效分析過程中經(jīng)常使用的設備之一，它們能夠幫助分析人員檢測電氣故障，并定位失效的具體位置。 1. EMMI的基本原理 EMMI（Electro-Magnetic Induc……

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CP測試和WAT測試的區(qū)別

更新日期： 2024-10-23
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在集電路的制造和測試過程中，CP測試（Chip Probing）和WAT測試（Wafer Acceptance Test）是兩個非常重要的測試環(huán)節(jié)。盡管它們都在晶圓（Wafer）階段進行，但二者的目的、測試對象、測試內(nèi)容和作用是有顯著不同的。一、整體概述：CP測試和WAT測試我們可以把集成電路的制造過程……

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一文讀懂探針卡的概念、組成、分類以及應用

更新日期： 2024-10-23
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探針卡（Probe Card）在集成電路測試中起著至關重要的作用，尤其在晶圓測試（wafer test）環(huán)節(jié)，探針卡作為連接ATE測試機臺和半導體晶圓之間的接口，確保了在芯片封裝前對其電學性能進行初步測量和篩選。 1. 什么是探針卡？探針卡可以形象地比作“醫(yī)生的聽診器”，幫助工程師“聽到”芯片的“心跳”?！?/div>

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為什么研發(fā)EUV光刻機那么難？

更新日期： 2024-10-23
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雖然表面上看，光刻機是半導體制造的工具之一，但它的背后涉及復雜的多學科交叉與全球化合作。 1. 極端紫外光源的挑戰(zhàn)：就像尋找“完美的燈泡” EUV光刻機依賴于波長僅為13.5納米的極端紫外線（EUV）光源，而這種光源的產(chǎn)生與控制是最大的技術挑戰(zhàn)之一。你可以把EUV光源想象成一個非常難以控制的“燈泡”，但這個……

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